三星HBM3E和HBM4 DRAM良率提高 财联社5月19日电,据媒体援引内部消息人士透露,三星电子DS部门最近将应用于HBM3E核心芯片的10纳米级第五代(1b)DRAM的良率提高到92%(基于冷态测试),并将安装在HBM4上的第六代(1c)DRAM的良率提高到75%以上。 Published by 风君子 独自遨游何稽首 揭天掀地慰生平 View all posts by 风君子